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CMOS Test and Evaluation Manjul Bhushan , Mark B. Ketchen CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology forCMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of... Editeur : Springer Parution : 2014-12-03 ePub 126,59 € J'achète Téléchargement immédiat Dès validation de votre commande
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology Manjul Bhushan , Mark B. Ketchen Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS... Editeur : Springer Parution : 2011-08-26 ePub 126,59 € J'achète Téléchargement immédiat Dès validation de votre commande

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