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CMOS Test and Evaluation

A Physical Perspective

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Éditeur :

Springer


Paru le : 2014-12-03



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Description
CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.
Pages
424 pages
Collection
n.c
Parution
2014-12-03
Marque
Springer
EAN papier
9781493913480
EAN EPUB
9781493913497
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
4
Nombre pages imprimables
42
Taille du fichier
6523 Ko
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Prix
126,59 €

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