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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in... Editeur : Springer Parution : 2018-07-06 PDF, ePub 52,74 € PDF ePub J'achète Téléchargement immédiat Dès validation de votre commande

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