Tous les livres numériques de Cheng-Wen Wu en PDF

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VLSI Test Principles and Architectures Cheng-Wen Wu , Laung-Terng Wang , Xiaoqing Wen This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. - Most up-to-date coverage of design... Editeur : Morgan Kaufmann Parution : 2006-08-14 PDF sans DRM 69,58 € J'achète Téléchargement immédiat Dès validation de votre commande

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