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Computed Electron Micrographs And Defect Identification A.K. Head Computed Electron Micrographs and Defect Identification illustrates a technique for identifying defects in crystalline solids by the comparison of their images, which are produced in the electron microscope, with corresponding theoretical images. This book discusses... Editeur : North Holland Parution : 2012-12-02 PDF sans DRM 57,97 € J'achète Téléchargement immédiat Dès validation de votre commande

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