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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits



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Éditeur :

Springer


Paru le : 2013-10-22



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Description
This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.
Pages
810 pages
Collection
n.c
Parution
2013-10-22
Marque
Springer
EAN papier
9781461479086
EAN EPUB
9781461479093
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
8
Nombre pages imprimables
81
Taille du fichier
15401 Ko
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Prix
105,49 €

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