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Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

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Éditeur :

Springer


Paru le : 2018-09-20

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Description

This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
Pages
156 pages
Collection
n.c
Parution
2018-09-20
Marque
Springer
EAN papier
9789811324925
EAN PDF
9789811324932
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
15
Taille du fichier
2990 Ko
Prix
137,14 €
EAN EPUB
9789811324932
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
15
Taille du fichier
1444 Ko
Prix
137,14 €

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