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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques



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Éditeur :

Springer


Paru le : 2017-11-16



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Description

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing.  The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.
Pages
93 pages
Collection
n.c
Parution
2017-11-16
Marque
Springer
EAN papier
9783319696720
EAN PDF
9783319696737
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
9
Taille du fichier
2417 Ko
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Prix
94,94 €
EAN EPUB
9783319696737
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
9
Taille du fichier
1024 Ko
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Prix
94,94 €

Dr. Selahattin Sayil is a Professor in the Philip M. Drayer Department of Electrical Engineering at Lamar University.  His research focuses on VLSI Testing,  Contactless Testing, Radiation effects modeling and hardening at the circuit level, Reliability analysis of low power designs, and Interconnect modeling and noise prediction.

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