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Noise in Nanoscale Semiconductor Devices



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Éditeur :

Springer


Paru le : 2020-04-26



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Description

This book summarizes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices.  Readers will benefit from this leading-edge research, aimed at increasing reliability based on physical microscopic models.  Authors discuss the most recent developments in the understanding of point defects, e.g. via ab initio calculations or intricate measurements, which have paved the way to more physics-based noise models which are applicable to a wider range of materials and features, e.g. III-V materials, 2D materials, and multi-state defects.
Describes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices;Enables readers to design more reliable semiconductor devices;Offers the most up-to-date information on point defects, based on physical microscopic models.
Pages
729 pages
Collection
n.c
Parution
2020-04-26
Marque
Springer
EAN papier
9783030374990
EAN PDF
9783030375003
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
7
Nombre pages imprimables
72
Taille du fichier
48896 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
94,94 €
EAN EPUB
9783030375003
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
7
Nombre pages imprimables
72
Taille du fichier
154061 Ko
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Prix
94,94 €

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