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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices



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Éditeur :

Springer


Paru le : 2014-10-29



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Description

This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today’s most complicated reliability issues in semiconductor devices.  Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy (“become hot”), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance. 
Pages
517 pages
Collection
n.c
Parution
2014-10-29
Marque
Springer
EAN papier
9783319089935
EAN EPUB
9783319089942
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
5
Nombre pages imprimables
51
Taille du fichier
11336 Ko
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Prix
105,49 €

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