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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis



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Éditeur :

Kluwer Academic Publishers


Paru le : 1998



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Description

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis.
A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.
Pages
n.c
Collection
n.c
Parution
1998
Marque
Kluwer Academic Publishers
EAN papier
0306469146
EAN PDF
0306469146
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
10
Taille du fichier
1445 Ko
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Prix
143,69 €

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