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Description

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.
Pages
n.c
Collection
n.c
Parution
1999
Marque
Kluwer Academic Publishers
EAN papier
0306470950
EAN PDF
0306470950
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
10
Taille du fichier
1445 Ko
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Prix
172,44 €

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