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Secondary Ion Mass Spectrometry

An Introduction to Principles and Practices

de

Éditeur :

Wiley


Paru le : 2014-08-19



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Description
Serves as a practical reference for those involved in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
• Introduces SIMS along with the highly diverse fields (Chemistry, Physics, Geology and Biology) to it is applied using up to date illustrations
• Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission
• Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS)
• Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions
• Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other
Pages
384 pages
Collection
n.c
Parution
2014-08-19
Marque
Wiley
EAN papier
9781118480489
EAN PDF
9781118916766
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
384
Taille du fichier
10598 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
141,32 €
EAN EPUB
9781118916773
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
384
Taille du fichier
13435 Ko
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Prix
141,32 €

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