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Aberration-Corrected Analytical Transmission Electron Microscopy



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Éditeur :

Wiley


Collection :

RMS - Royal Microscopical Society

Paru le : 2011-08-02



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Description
The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).
Pages
304 pages
Collection
RMS - Royal Microscopical Society
Parution
2011-08-02
Marque
Wiley
EAN papier
9780470518519
EAN PDF
9781119978855
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
304
Taille du fichier
4649 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
64,30 €
EAN EPUB
9781119979906
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
304
Taille du fichier
11551 Ko
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Prix
64,30 €

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