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Louise Reader

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Description
This book introduces the basic concepts necessary to understand Single Event phenomena which could cause random performance errors and catastrophic failures to electronics devices. As miniaturization of electronics components advances, electronics components are more susceptible in the radiation environment. The book includes a discussion of the radiation environments in space and in the atmosphere, radiation rate prediction depending on the orbit to allow electronics engineers to design and select radiation tolerant components and systems, and single event prediction.
Pages
520 pages
Collection
n.c
Parution
2011-11-16
Marque
Wiley-IEEE Press
EAN papier
9780470767498
EAN PDF
9781118084304

Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
520
Taille du fichier
6062 Ko
Prix
165,58 €
EAN EPUB
9781118084311

Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
520
Taille du fichier
24115 Ko
Prix
165,58 €

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