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Statistique industrielle

Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP de

,

Éditeur :

Dunod


Collection :

Technique et Ingénierie

Paru le : 2021-01-20

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Description
La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n’a jamais été aussi importante qu’aujourd’hui, entraînant un bond en avant de la statistique industrielle, discipline visant à utiliser ces données dans le but de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels.
Après avoir détaillé l’évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure, le concept d’estimation et son lien avec l’échantillonnage, les plans d’échantillonnage, les cartes de contrôle et l’aptitude des procédés, cet ouvrage présente 7  cas d’étude issus de problèmes industriels dans des domaines aussi variés que la microélectronique, l’aéronautique, l’industrie pharmaceutique et l’automobile. Le lien entre la maîtrise statistique des procédés et la maintenance prédictive fait aussi l’objet d’une analyse concrète.
Pages
240 pages
Collection
Technique et Ingénierie
Parution
2021-01-20
Marque
Dunod
EAN papier
9782100810918
EAN PDF
9782100822768
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
48
Nombre pages imprimables
240
Taille du fichier
5282 Ko
Prix
35,99 €

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