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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

de

Éditeur :

Springer Vieweg


Paru le : 2020-01-03



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Description
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Pages
639 pages
Collection
n.c
Parution
2020-01-03
Marque
Springer Vieweg
EAN papier
9783658221775
EAN PDF
9783658221782
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
6
Nombre pages imprimables
63
Taille du fichier
15278 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
98,59 €
EAN EPUB
9783658221782
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
6
Nombre pages imprimables
63
Taille du fichier
39148 Ko
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Prix
98,59 €

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