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Scanning Probe Microscopy

Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

de

Éditeur :

Springer


Collection :

NanoScience and Technology

Paru le : 2015-02-24



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Description

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.
Pages
382 pages
Collection
NanoScience and Technology
Parution
2015-02-24
Marque
Springer
EAN papier
9783662452394
EAN EPUB
9783662452400
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
3
Nombre pages imprimables
38
Taille du fichier
7823 Ko
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Prix
179,34 €

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