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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

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Éditeur :

Springer


Paru le : 2011-09-08

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Description
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
Pages
212 pages
Collection
n.c
Parution
2011-09-08
Marque
Springer
EAN papier
9781441982964
EAN EPUB
9781441982971
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
2
Nombre pages imprimables
21
Taille du fichier
2796 Ko
Prix
94,94 €

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